蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM)

蔡司雙束電鏡Crossbeam系列：專為高通量3D分析和樣品制備量身打造的FIB-SEM?蔡司雙束電鏡Crossbeam系列結合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-...

蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab

集3種聚焦離子束于一身的顯微鏡，可以實現(xiàn)亞10nm結構的超高精度加工快速、精準的亞10納米結構加工。借助ORIONNanoFab顯微鏡可在鎵、氖及氦離子束之間實...

TESCAN超高分辨率場發(fā)射電鏡MAGNA

TESCANMAGNA在低電壓下具有極佳的分辨率和優(yōu)異的性能，尤為適用于納米表征TESCANMAGNA?是一款功能極其強大的分析儀器，可用于表征納米材料的表面以...

TESCAN AMBER 高分辨率雙束聚焦掃描電鏡系統(tǒng)（F...

TESCANAMBERTESCANAMBER?是一款雙束（FIB-SEM）聚焦掃描電鏡系統(tǒng)系統(tǒng)，可以滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學術界研究的所有需求，在提供無與倫比的圖像...

TESCAN AMBER X 高分辨氙離子源雙束聚焦掃描電鏡...

TESCANAMBERX等離子FIB和無漏磁超高分辨場發(fā)射掃描電鏡的完美結合，無限擴展在材料表征領域的應用TESCANAMBERX?是完美結合了分析型等離子FI...

TESCAN SOLARIS 超高分辨雙束聚焦掃描電鏡（FIB-...

TESCANSOLARISZUI先進的納米加工能力，挑戰(zhàn)樣品制備質量的極限 TESCANSOLARIS 是一款鎵離子源的FIB-SEM系統(tǒng)，適用...

TESCAN SOLARIS 超高分辨氙離子源雙束聚焦掃描電...

TESCANSOLARISX大尺寸試樣進行高效率制備和高分辨表征的解決方案TESCANSOLARISX是半導體和材料表征中最具挑戰(zhàn)性的物理失效分析應用的平臺，具...