TESCAN AMBER

TESCAN AMBER 是一款雙束（FIB-SEM）聚焦掃描電鏡系統(tǒng)系統(tǒng)，可以滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學術界研究的所有需求，在提供無與倫比的圖像質(zhì)量的同時，可完成復雜的納米操作并保證極佳的精度和操作靈活性。

TESCAN AMBER 配置了最新的 BrightBeam™ 鏡筒，真正的無磁場超高分辨（UHR）可以最大化的實現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析，以及在 FIB 操作時 SEM 的實時監(jiān)測。另一方面，創(chuàng)新的 Orage™  FIB 鏡筒配有最先進的離子光學系統(tǒng)和氣體注入系統(tǒng)，使得 TESCAN AMBER 成為了世界頂級的樣品制備和納米加工的儀器。

模塊化、基于工作流的軟件確保了在所有應用中都能最大程度進行操控，不需要在復雜的技術之間進行取舍，用戶界面友好。因而 TESCAN AMBER 是高端FIB-SEM應用的理想選擇，也是所有追求日常科學和技術突破的人士的首選分析平臺。

主要特點

創(chuàng)新的 BrightBeam™SEM 鏡筒技術，實現(xiàn)真正的超高分辨（UHR）

• 最新的 BrightBeam™SEM 鏡筒，電磁-靜電復合物鏡，配置專利的 70°極靴 ；
• 無磁場超高分辨成像，可以最大化的實現(xiàn)各種分析，包括對磁性樣品的分析；
• 最新的多種探測器，包括透鏡內(nèi)軸向探測器（In-Beam Axial detector ）以及多控制器，可選擇不同角度和不同能量來收集信號，更好的表面靈敏度和對比度，可以看得更細致，觀察更深入；
• 新型場發(fā)射肖特基電子槍的最大束流可達到 400 nA，同時可實現(xiàn)電子束能量的快速改變；
• 新一代電路系統(tǒng)可同時支持多達 8 個實時信號通道
• EquiPower™ 透鏡技術可實現(xiàn)高效的散熱并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性；
• 電子束減速技術（BDT）進一步加強了低電壓下的分辨率，并能同時探測 SE 和 BSE 信號（選配）；

創(chuàng)新的 Orage™ Ga FIB 鏡筒可完成極具挑戰(zhàn)性的納米工程任務

• 創(chuàng)新的 Orage™ Ga FIB 鏡筒保證絕佳的離子分辨率，30 kV 分辨率優(yōu)于 2.5 nm ，最低電壓可達 500 V；
• 優(yōu)秀的低壓樣品制備能力可以快速制備無損超薄 TEM 樣品；
• FIB 束流最大可達100 nA，SmartMill 級別的高速切割進行截面處理和薄片取出使得加工效率提升了一倍；
• 快速的 FIB 納米重構技術，輕松了解樣品的超微觀信息；
• 采用新型 OptiGIS 氣體注入系統(tǒng)，可快速啟動，沉積/蝕刻穩(wěn)定性極好，一臺儀器最多安裝6個 OptiGIS；
• 無漏磁 SEM 成像和高速 FIB 相結(jié)合，可以快速不間斷地完成銑削/連續(xù)成像，適用于 TEM / 原子探針樣品制備或 FIB-SEM 斷層掃描。

主要應用

Semiconductors & Microelectronics（半導體行業(yè)應用）

Materials Science（材料科學應用）

Life Sciences（生命科學應用）