Sensofar共聚焦白光干涉儀 | 白光干涉技術

為了測量非常光滑的表面到中等粗糙表面的表面高度，開發了干涉技術，可在任何放大倍率下實現相同的系統噪聲。對于 PSI，它可實現優于 0.01 nm 的系統噪聲。 ...

Sensofar共聚焦白光干涉儀 | 共聚焦技術

共聚焦輪廓儀專為測量光滑表面到極粗糙表面而開發。共聚焦輪廓提供更佳的橫向分辨率，可達 0.15μm 線條和空間，空間采樣可減少到 0.01μm，這是關鍵尺寸測量...

Sensofar共聚焦白光干涉儀 | AI多焦面疊加技術

主動照明多焦面疊加是一種為了測量粗糙的表面形狀而開發的光學技術。這項技術基于 Sensofar 在共聚焦和干涉 3D 測量領域的廣泛專業知識，專門設計用于補充低...

Sensofar 大視野光學輪廓儀|條紋投影

條紋投影非常適合大面積測量，垂直精度和可重復性高，系統噪聲低。

Sensofar共聚焦白光干涉儀|測量原理

雖然一開始作為高性能 3D 光學輪廓儀設計，但是我們的某些系統勝過所有現有的光學輪廓儀，集所有技術于一身。