揭秘EUV光刻核心技術：如何用納米級測量打造下一...

在半導體制造領域，極紫外（EUV）光刻技術是突破7nm以下制程的關鍵。而EUV掩模的精度直接決定了芯片性能——其表面形貌的誤差必須控制在??亞納米級??。今天，...

澤攸科技 ZEM 系列臺式掃描電鏡：解碼微橡膠污染...

微橡膠顆粒的環境危害，與其微觀形貌、表面特性、粒徑分布密切相關：粗糙的表面更容易吸附重金屬和有機污染物，細小的粒徑則能穿透生物屏障進入細胞。但這些顆粒直徑多在 ...

澤攸ZEM 系列臺式電鏡助力“光纖集成石墨烯超快...

在科研領域，顯微鏡就像科學家的 “火眼金睛”，幫我們看清微觀世界的奧秘。而電子源，就是這雙眼睛的 “光源”，其性能直接決定了觀測的精度和效率。最近，由北京大學等...

表面檢測系統：為醫療植入物性能保駕護航

在精準醫療領域，醫療植入物的表面質量直接關系到手術效果與患者健康。Sensofar 表面檢測系統通過專業測量技術，為植入物表面性能優化提供關鍵支持。

ISO25178 參數解析：Ssw（主要空間波長）的技術...

Ssw 指的是與傅立葉變換最大值相對應的波長。從表面紋理的構成機制來看，任何物體表面都可視為不同尺度波的疊加組合，而傅立葉變換能夠定量分析各個波長成分對整體紋理...