Sensofar共聚焦白光干涉儀 | 用于二氧化硅掩膜薄...

為獲得所需的 1 nm 精確度，我們現(xiàn)在將 3D 光學(xué)輪廓儀 S neox（光譜反射法模式）作為測(cè)量 SiO 層厚度的一種快速且簡(jiǎn)便的方法。2

Sensofar共聚焦白光干涉儀 | 用于醫(yī)用植入體制造...

3D 光學(xué)輪廓儀 S neox 使加工專(zhuān)家能夠識(shí)別出導(dǎo)致缺陷的刀具，以及在批量生產(chǎn)過(guò)程中跟蹤其磨損情況，從而控制制造過(guò)程并改善其結(jié)果

Sensofar共聚焦白光干涉儀 | 用于檢測(cè)通過(guò)激光表...

共聚焦技術(shù)已被證明是一種行之有效的技術(shù)，可用于研究和表征凹痕的深度和直徑，更重要的是，在激光加工開(kāi)發(fā)過(guò)程中，它同樣適用于研究和表征凹痕周?chē)脑俪练e材料高度

Sensofar共聚焦白光干涉儀 | 用于對(duì)與激光誘導(dǎo)擊...

共聚焦技術(shù)已被證明是一種行之有效的技術(shù)，適用于研究和表征不同 LIBS 儀器產(chǎn)生的燒蝕坑的大小、直徑和深度

Sensofar共聚焦白光干涉儀 | 用于插入物的前沿測(cè)...

在S neox五軸儀上，一切皆有可能。陡峭的角度和幾微米的小切削刃測(cè)量對(duì)于3D光學(xué)輪廓測(cè)量不再是問(wèn)題。