
Visoria P 偏光顯微鏡是專為日常材料檢驗設計的專業設備,憑借偏振光技術、智能化功能與人體工學設計,可高效研究材料及地質樣品的光學特性,廣泛適用于材料科學、地質學、工業質檢等領域,助力提升檢驗流程的效率、準確性與操作舒適性。
采用數字式顯微鏡設計,打破傳統目鏡觀察局限,帶來多維度便利:

針對檢驗中 “頻繁調整參數” 的痛點,通過編碼功能與自動調節技術,將更多時間聚焦于樣品觀察:
搭配 Enersight 軟件平臺,為材料檢驗提供全流程數字化支持,界面直觀且功能貼合實際需求:
| 核心功能 | 作用與價值 |
|---|---|
| 層厚測量 | 精準確定材料涂層或多層結構的厚度,適用于涂層質量檢驗、薄膜材料分析等場景 |
| XY 拼接(手動載物臺) | 整合手動載物臺移動數據,實現更大視野、更高分辨率的樣品圖像拼接,清晰呈現大尺寸樣品的整體結構 |
| 景深擴展(EDOF) | 采集樣品不同深度的清晰圖像并融合,解決傳統顯微鏡 “局部清晰、整體模糊” 問題,尤其適合表面不平整的材料 |
| 快速亮度調節 | 一鍵調用理想照明與相機參數,無需手動微調,加速圖像采集效率 |
| 照明不均校正 | 自動消除因照明差異產生的圖像陰影,優化圖像質量,提升細節識別準確性 |
| 多觀察方式圖像合并 | 融合明場、暗場等不同觀察方式的圖像,全面呈現樣品特性,幫助發現單一觀察方式下隱藏的細節 |
Visoria P 的核心競爭力在于專業偏光成像技術,通過精準組件與多模式觀察,揭示非偏光顯微鏡無法呈現的樣品光學特性。
| 觀察方式 | 操作原理 | 核心用途 |
|---|---|---|
| 平行偏振光 | 偏光片(起偏器)與檢偏鏡呈平行狀態 | 清晰觀察樣品的結構細節與特征顏色,用于初步識別樣品的外觀屬性 |
| 正交 / 圓偏振光 | 正交:偏光片與檢偏鏡呈 90° 交叉;圓偏振:在兩者間插入四分之一波片... |
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