產品簡介
HCP421V-MP可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -190℃ ~ 400℃ 范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔，亦可內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。
功能特點
功能特點
迷你溫控探針臺，可用于 顯微鏡/光譜儀
-190℃~400℃ 可編程控溫（負溫需配液氮制冷系統）
直徑 26 mm 加熱區
可抽真空的腔體，亦可充入保護氣體使用
模塊化設計，可自由組合
*可升級獨立的 4-8 獨立探針，可從設備外部移動探針進行點針,
可從溫控器或電腦軟件控制，可提供軟件 SDK
SMA 接頭轉 BNC 四探針，手動點針
*可選三同軸接口，用于 pA 級測試
*可做定制或改動，詳詢上海恒商
獨立的四個探針，可從設備外部移動探針進行點針
電學參數
溫控參數
溫度范圍 -190℃ ~ 400℃（負溫需配液氮制冷系統）
傳感器/溫控方式 100Ω鉑 RTD / PID 控制（含 LVDC 降噪電源）
最大加熱/制冷速度 30℃/min
最小加熱/制冷速度 ±0.01℃/min
溫度分辨率 0.01℃
溫度穩定性 ±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）
軟件功能 可設溫控速率，可設溫控程序，可記錄溫控曲線
光學參數
適用光路 反射光路 *另有透射光路型號
窗片 可拆卸與更替的窗片
最小物鏡工作距離 8 mm *截面圖中 WD
透光孔 臺面默認無通光孔，可增設通光孔以支持透射光路
上蓋窗片觀察 窗片范圍φ27mm，最大視角±45° *截面圖中θ1
負溫下窗片除霜 吹氣除霜管路
結構參數
加熱區/樣品區 直徑 26 mm
樣品腔高 5.4 mm *樣品最大厚度由探針決定
放樣 打開上蓋后置入樣品再點針，關上蓋后無法移動探針
氣氛控制 可抽真空的腔體，亦可充入保護氣體使用
外殼冷卻 可通循環水，以維持外殼溫度在常溫附近
安裝方式 水平安裝 或 垂直安裝
臺體尺寸/重量 250 mm x 180 mm x 55 mm / 2400g
配置列表
基本配置 HCP421V-MP 溫控探針臺、mK2000B 溫控器
可選配件 液氮制冷泵、循環水機、安裝支架、測試源表、真空系統、電化學工
作站、臺面電懸空、樣品接電引線
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