• 產品介紹：
ZEM20pro臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。
• 產品特色：
▲ 易用性強
▲ 兼容擴展性強
▲ 高性價比
▲ 多級防震
▲ 多種成像模式
▲ 高分辨觀察
• 實拍案例：
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主要指標 |
ZEM20 Pro |
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環境要求 |
AC 220V，50Hz，1kW，無需減震臺 |
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加速電壓 |
3kV~20kV連續可調，1kV步進 |
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電子槍 |
單晶燈絲 |
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放大倍數 |
360000x |
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分辨率 |
3nm |
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探測器 |
二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀(選配) |
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樣品臺 |
兩軸：X:60mm Y：55mm |
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樣品容納大小 |
XY可自由移動：105*87*51.5mm靜止：165*122*51.5mm |
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減速模式 |
選配(0-10kv樣品臺電壓減速) |
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成像模式 |
視頻模式：512x512像素，無需小窗口掃描；快掃模式：512x512像素 |
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導航功能 |
光學相機導航，艙內攝像頭，可實時觀察樣品艙內情況 |
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自動功能 |
自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接 |
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尺寸 |
主機：650 × 370 × 642(mm) |
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拓展功能 |
兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（TEC冷臺、加熱臺、拉伸臺等） |
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