SEM熱電芯片臺(tái)

SEM熱電芯片臺(tái)可搭配電學(xué)測(cè)試，兼容指定型號(hào)掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。

可搭配電學(xué)測(cè)試，兼容指定型號(hào)掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。