TESCAN CLARA 超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM），前所未有的材料表征能力

CLARA 是一款應用廣泛的多功能掃描電子顯微鏡，是基于成功的S8000 基礎上進一步研發(fā)的，其設計更能滿足材料科學的需求，適用于對各種不同類型材料的分析和表征。 

CLARA 的分辨率可以達到亞納米級別，能夠揭示材料最細微的結構。 TESCAN 獨特的 Wide Field Opticls™ 技術幫助您在大視野下全方面了解樣品的構成（最小放大倍數可至2倍），從而快速定位感興趣的區(qū)域。

TESCAN CLARA 在低電壓下仍保持了出色的分辨率，因而不僅適用于樣品極表面進行形貌觀察，同時也是表征光敏樣品和非導電樣品的理想選擇。 TESCAN CLARA ，不僅在低電壓下擁有極佳的分辨率，而且能夠通過選擇二次電子和背散射電子的不同襯度，來探索樣品可能包含的大量信息，因而是分析測試中心或材料科學研究實驗室的最佳選擇。

新一代的電子光學和成像技術使 CLARA 成為任何分析測試中心，材料表征實驗室或工業(yè)檢測實驗室必不可少的設備。直觀，模塊化的用戶界面可根據每個操作員的需求進行定制，可以有效的提高工作效率。預設程序和最佳成像條件可以幫助新手用戶輕松獲得高質量的圖像，并盡可能協助其完成能力范圍內可操作的高端功能。

主要特點

• 獨特的鏡筒內 BSE 探測器設計可以根據能量和角度不同選擇信號
  鏡筒內 BSE 探測器所安裝的特殊位置使得它可以同時采集不同 “出射”角度的背散射電子（BSE）。 Axial BSE 探測器收集近軸背散射電子信號，而 Multidetector（BSE）則收集中角背散射電子信號， 這兩個信號是明顯不同的。 通過 Axial BSE 探測器我們可以抑制不希望看到的由于樣品的表面形貌引起的干擾，從而觀察到最佳的材料成分襯度。 相比之下，Multidetector（BSE）收集中角背散射電子，獲得既有成分襯度又有形貌襯度的圖像，但更凸顯表面形貌的特點。 Multidetector 配有一個能量過濾器，可以實現二次電子信號和背散射電子信號的能量過濾，以便增強背散射電子的襯度。

• 電子束敏感樣品和非導電樣品的理想選擇
  完美的鏡筒和探測器系統的一體設計，無需施加樣品減速偏壓，即可實現電子束 50 eV 的低著陸能量，避免了樣品產生損傷和荷電效應，并實現出色的成像性能，是觀察各種不導電樣品的理想選擇。

• 電子束的快速設置 – 實現最佳的成像和分析條件
  EquiPower™ 透鏡技術可實現高效的散熱并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。同時結合使用了實時電子束實時優(yōu)化技術，使 TESCAN CLARA 能夠在全部束流范圍下獲得優(yōu)異的高分辨率圖像和（EDS / EBSD）分析能力。

主要應用

材料科學

生命科學

地球科學